性能特点
- 检测速度再升级，适配高速在线检测；
- 算法大幅优化，Z向重复精度显著提升；
- 超大测量景深，稳定应对复杂表面；
- 专为半导体引线键合与精密零件尺寸测量优化；
- DLP
-
全部 1280×720 912×1140 1920×1080
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- CMOS分辨率
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全部 3M 5M 12M 25M 65M
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- XY分辨率
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全部 <5μm <10μm <20μm <50μm <100μm <500μm <1000μm
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- Z轴重复精度
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全部 <5μm <10μm <20μm <50μm <100μm <500μm <1000μm
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- 帧率
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全部 <=2.5 <=7.5 <=15
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- 光源
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全部 默认白光 默认蓝光
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- 接口
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全部 GigE USB_3.0 CXP
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